电子机箱寄生系数和屏蔽效能的有限元/边界元法预测

集成

理想情况下,电子电路的行为只能由其元件的性质决定。然而,与电容和电感相关的杂散耦合效应会改变电路的参数,并导致本应相互独立的元件之间产生不必要的相互作用。本次网络研讨会将解释各种现象,并展示建模在量化这些相互作用方面的效用,以及解决方案的有效性,如在外壳中引入屏蔽。


主持人
Integrated_expert
Doug Craigen博士。
Doug Craigen博士是INTEGRATED的基准测试团队的组长。他在英国哥伦比亚大学获得物理学学士学位,在滑铁卢大学获得半导体物理学硕士和博士学位(1991年)。在过去的20年里,他是阿卡迪亚大学的助理教授,在温尼伯大学教书和研究,是个体经营的,为公司工作在计算机的磁屏蔽接口设备,微波通信网络建模和分析测试数据。2001年加入INTEGRATED;从那时起,他就与世界各地的科学家和工程师合作,帮助他们决定如何最好地使用软件进行各种电磁和热应用的模拟。


关于集成工程软件
自1984年以来,INTEGRATED为涉及多个学科的工程和科学设计提供了一套创新的、世界级的完整解决方案——创建分析物理问题的全频谱的仿真软件程序。万博投注网址
在许多情况下,影响模型的是变量的组合,而不仅仅是电磁或粒子轨迹场。当涉及到这些因素的组合时,还需要对热力和电力系统进行设计分析。
INTEGRATED是边界元法(BEM) CAE软件的行业领导者。边界元不仅提供了最精确的数值场解,而且它也是涉及设备周围空间建模的问题的选择方法:即我们所说的“大开放区域”。今天,市场上没有其他公司能在相同的软件包(BEM, FEM和FDTD)中提供如此多的领域解决方案。integra以其将最先进的技术与快速响应的客户服务和支持相结合的成就而自豪。
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