准确地预测PLL系统中的参考刺激水平
文章：Michel Azarian，将Ezell
了解如何预测参考旋转水平有助于在PLL系统设计的早期阶段明智地帮助拾取环路参数。
锁相环（PLL）是负反馈系统，其锁定较高频率装置（通常是电压控制振荡器，VCO）的相位和频率，其相位和频率在温度和时间上不是更稳定和更低的时间频率装置（通常是温度补偿或烤箱控制的晶体振荡器，TCXO或OCXO）。作为黑匣子，可以将PLL视为频率倍增器。
线性技术提供了一种简单的模型，可用于准确地预测由于电荷泵和/或PLL系统中的运算放大器漏电流引起的参考涡流水平。了解如何预测这些级别有助于在PLL系统设计的早期阶段明智地挑选循环参数。
当需要高频本地振荡器（LO）源时，采用PLL。示例应用程序很多，包括无线通信，医疗设备和仪器。
PLL集成电路（IC）通常包含由两个当前源，ICP_UP和ICP_DN表示的所有时钟分频器（R和N），相位/频率检测器（PFD）和电荷泵。
Integer-N PLL操作和非实际是RF系统设计中的重要主题。参考刺会可能对整体系统性能产生显着的负面影响。线性技术提供的简单模型准确地预测由于PLL中漏电流引起的参考试验水平，并且可以是一种有用的设计工具，显着减少了达到所需解决方案所需的板修订的数量。
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