低电流SMU提供10FA电流灵敏度
文章：国家文书
工程师可以使用模块化NI PXI SMU来构建并行，高通道计数系统，紧凑的形状因子，并在单个PXI机箱中受益于多达68个SMU通道。
国家仪器推出了NI PXIE-4135源测量单位（SMU），测量灵敏度为10FA和电压输出高达200V。
据该公司介绍，工程师可以使用NI PXIe-4135 SMU来测量低电流信号，并利用NI PXI SMU的高通道密度、快速测试吞吐量和灵活性等应用，如圆片级参数测试、材料研究和低电流传感器和集成电路的特性。
“我们的在线参数测试要求我们获得数百万数据点，通常在Picoppere范围内漏电流，”IMEC的研究员Bart de Wachter博士说。“新的NI PXI SMU允许我们准确测量这些低电流信号，同时受益于PXI平台提供的速度改进以及使用LabVIEW编程系统的灵活性。”
工程师可以使用模块化的NI PXI SMU来构建并行形式的平行，高通道计数系统，并在单个PXI机箱中受益于多达68个SMU通道，可以扩展到数百个通道以解决晶圆级可靠性和并行测试。
此外，用户可以通过利用高速通信总线，确定性硬件排序和数字控制回路技术来提高测试吞吐量，以便为正在测试的任何设备进行自定义Smursponse。它们还可以通过软件控制SMU响应，该软件除去了SMU Settling的不必要的等待时间，并提供了帮助最小化过冲和振荡的灵活性，即使具有高容量的负载。
“在半导体器件中提高复杂性要求我们重新考虑研究，表征和可靠性测量的传统方法，这是我们在PXI中的SMU投资的关键动机，”NI自动化主任Luke Schreier说。“NI SMUS降低测试时间，增加信道密度，现在提供更好的测量质量，10FA灵敏度。”
从Box SMU提供预期的易用性，NI PXI SMU上的交互式软前锅可用于进行基本测量和调试自动化应用。驱动程序具有帮助文件，文档和现成的示例程序，以协助测试代码开发，并包含一个编程接口，该编程接口适用于多种开发环境，如C，Microsoft .NET和LabVIEW系统设计软件。
工程师还可以使用NI PXI SMU与NI的TestStand测试管理软件，简化实验室或生产地板中的测试系统的创建和部署。