焦耳20测试插座,确保提高吞吐量和可靠性的外围IC测试

文章作者:Smiths Interconnect

Smiths Interconnect的焦耳20测试插座在测试外围集成电路方面提供了一流的电气和机械性能。

Smiths Interconnect的Joule 20测试插座具有故障安全擦拭接触技术,为最苛刻的通信、消费者、可穿戴和汽车应用测试外围ic提供一流的电气和机械性能。

其创新设计允许在不从PCB上拆卸插座的情况下拆卸外壳。这使得清洁和维修不需要下线生产设备,减少了设备的停机时间,提高了生产能力。

“最近数字时代的加速催生了对新型消费/商业电子产品以及自动驾驶汽车的巨大需求。集成电路变得更快、更复杂,这需要高测试可靠性和减少测试时间,”Smiths Interconnect半导体测试业务部副总裁兼总经理Bruce Valentine说。“随着IC技术的发展,以满足这些需求,Smiths Interconnect随时准备支持Joule等解决方案,提供更高的吞吐量以及更快、可靠和可重复的外接包(QFN、QFP和SOIC)测试。”

Smiths Interconnect的焦耳20测试插座提供了显著的差异化优势,包括:

  • 插入插座,匹配现有的PCB插座足迹
  • 极短的信号路径,提供高达20GHz的高带宽
  • 非常低的芯片和PCB之间的接触电阻,驱动更高的测试产量
  • 高频率能力,确保信号的完整性和可靠性
  • 适用范围:-40°C至+125°C
  • 接触寿命长,可达50万次

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